CE 0.4μM 11mJ Leeb Portable Hardness Tester
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Impact Device Optional C Impact Probe hardness test device Leeb hardness tester
C Impact Device size: Size: F20 *141mm, weight :75g. Minimum impact energy, used to measure small light, thin components and surface hardened layer.
Impact devices
Testing conditions:
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Product Tags: 11mj leeb portable hardness tester 0.4μm leeb portable hardness tester C leeb hardness tester |
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